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科研成果

一种纳米材料密度分布状态的检测方法

专利名称:

一种纳米材料密度分布状态的检测方法

英文名称:

专利类别:

发明

申请号:

CN201910019103.5

申请日期:

2019-01-09

授权日期:

2024-04-09

专利号:

ZL201910019103.5

第一发明人:

陈岚

其它发明人:

葛广路; 翟兆毅

国外申请日期:

国外申请方式:

专利授权日期:

2024-04-09

缴费情况:

实施情况:

专利证书号:

专利摘要:

其它备注: